ict測試儀，即in circuit test,線(xiàn)路板內路測試儀器，這種設備就是快速檢查電路板的缺陷。在批量消費時(shí)采用的設備。

我們所用的ict測試儀的的功用無(wú)非是這幾種：1、contact測試，即開(kāi)路測試。

2、short測試，即短路測試。

3、OX/JX測試。即銜接器測試（也可測BGA、IC能否空焊。

4、component測試，即元件測試。元件測試分為resistance（電阻）、電容測試、電感測試。

5、上電測試，即測試IC局部。還有燒錄用。

具有這五種功用的ict測試儀設備，其價(jià)值就在500萬(wàn)美圓每臺，有前四種功用的ict測試儀器，也能賣(mài)到100萬(wàn)每臺（就我所理解到的幾種測試儀器來(lái)看）。再看看它們的測試原理。

contact測試

開(kāi)路測試，給一定的電壓，到指定的測試點(diǎn)，在另外指定的點(diǎn)上量電壓，電壓小于給定值，就闡明該點(diǎn)有問(wèn)題。這種電路不難吧，經(jīng)典硬件電路網(wǎng)上大把都是。

short測試

短路測試是測試兩點(diǎn)之間的電阻，理論和電阻測試一樣，[敏感詞]將詳述。

OX/JX測試

上面一個(gè)感應片，[敏感詞]的針點(diǎn)給一個(gè)AC信號，感應片感應到的信號在某一范圍內，超出范圍就判別為有問(wèn)題。

component測試

元件測試更簡(jiǎn)單，電感能夠當零電阻來(lái)計算（測試儀器都是這么干的）。給元件一端加電流，另一端測試電壓（簡(jiǎn)單吧、假如想要硬件電路圖，我這里有而且準確到0.03%，13642869852&Email:loof_lripa@163.com）。

另外，并聯(lián)電阻的測試也很巧妙，它是用的運算放大器的虛連、電壓相等特性，測試方式如下：

電阻R2兩端電壓相等，電流為0。所以待測電阻R1的電流就I為所給電流，這樣就能夠測到電壓V，R1的值就為R=V/I。

應用運算放大器停止測試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：

∵Ix = Iref # f h. d+ y/ V. e j

∴Rx = Vs/ V0*Rref * F' n- O7 l+ r5 V0 N1 e9 x; m

Vs、Rref分別為鼓勵信號源、儀器計算電阻。丈量出V0，則Rx可求出。 8 e+ a0 G6 y9 A( N; M* g

若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗方式，同樣可求出C或L。 1 _, \ Q F- q" c

! ]" @4 L" Q: D0 N! I1 W+ |

上電測試，即POWER UP測試

上電測試就是測IC的功用，比方邏輯器件，就只測真值表。ict測試儀測IC功用有沒(méi)有問(wèn)題。還有所謂的boundery scan測試，即邊境掃描。是給IC的引腳一個(gè)時(shí)序，在其他的腳上探測信號的測試，是測試IC的銜接問(wèn)題。聽(tīng)說(shuō)是測試上很先進(jìn)的一種方式。

測試原理講完了，這些原理就是根本的數字模仿信號的應用，想曉得詳細參數的能夠聯(lián)絡(luò )我。另外，就我如今所開(kāi)發(fā)的測試設備的一些學(xué)問(wèn)能夠簡(jiǎn)單的講一下其硬件構造：

ict測試儀硬件構造主要有兩大構造：1、功用板。2、尋址板（尋址即找到指定針點(diǎn)）能夠用以下方式：

功用板是用來(lái)銜接電腦，產(chǎn)生和丈量電流電壓信號，和控制尋址板用，可用FPGA控制。將尋址板所銜接到的針位與產(chǎn)生的信號相銜接，就能夠控制到待測板的各個(gè)元件了。尋址板也可用FPGA來(lái)找到指定針點(diǎn)，假如針點(diǎn)太多128或者256，那就要用到RELAY了。